Атомно-силовой микроскоп (АСМ) NT-MDT Ntegra
-
Страна:
Россия
-
Производитель:
NT-MDT
- Категория:
-
Доступность:
Доступно
- Подразделение:
- Место размещения:
Характеристики
| Максимальная область сканирования | 100х100х10 мкм |
| Максимальный размер образца | 40х40х10 мм |
| Ручная система позиционирования образца | 10х10 мм |
| Вес образца | не более 100 гр |
| Тип сканирования | Сканирование образцом |
Методики:
- Контактная АСМ.
- Полуконтактная/бесконтактная АСМ.
- Метод фазового контраста.
- Метод латеральных сил.
- Магнитная силовая микроскопия.
- Микроскопия зонда Кельвина.
- Электросиловая микроскопия.
- Получение вольт-амперных характеристик в точке.
- Микроскопия пьезоотклика.
- Нанолитография.
Возможности
- Морфология и рельеф поверхности с высоким разрешением.
- Размеры зерен и кристаллитов.
- Толщина покрытий (требует подготовки образца).
- Распределение локальной проводимости образца.
- Распределение намагниченности образца.
- Измерение относительной жесткости поверхности.
- Измерение пьезоотклика.
- Модификация поверхности.
- Шероховатость поверхности.