Конфокальный микроспектрометр комбинационного рассеяния света inVia
-
Страна:
Великобритания
-
Производитель:
Renishaw
- Категория:
-
Доступность:
Доступно
- Подразделение:
- Место размещения:
Характеристики
Объективы х5, х20, х50, ч100.
Многоканальный детектор с охлаждаемой (до -70о С) CCD камерой.
Ar+ лазер с длинами волн 457, 488 и 514нм и He-Ne лазер с длиной волны 633 нм спиковой мощностью ~40 мВт.
Минимальное пятно фокусировки лазерного пятна ~2 uм при х50 объективе с Na=0.75.
Модуль StreamLine, для быстрого картирования.
Отсекающие Edge фильтры для подавления возбуждающего излучения, позволяющие записывать спектры в стоксовой области от ~70 см-1.
Notch фильтр для возбуждения 514 нм позволяет записывать спектры в областях стоксового/антистоксового сдвига от ~ +-25 см-1.
Наличие решёток с разрешением 1800 и 3000 штрихов/мм, позволяет записывать спектры с различным спектральным разрешением с минимум в ~1 см-1.
В системе также предусмотрен модуль для работы с поляризованным излучением, а также приставка для температурных измерений.
Возможности
Конфокальный микроспектрометр комбинационного рассеяния света inVia Renishaw предназначен для определения химического состава, структуры и напряжений наноматериалов с дифракционным пространственным разрешением на основе анализа спектров комбинационного рассеяния света. Позволяет получать одно-, двух- и трехмерные рамановские изображения и, соответственно, карты химического состава объектов.