Перейти к основному содержанию

Сканирующий электронный микроскоп Tescan Mira-3

Характеристики

Электронная колонна (FEG) 

Ускоряющее напряжение: 1-30 кВ

Детекторы: SE, BSD, EDX, EBSD, CL

Разрешение: до 1 нм при 30 кВ

Возможности

  • Морфология поверхности.
  • Толщина покрытия (кроссекшн).
  • Размеры частиц/кристаллов.
  • Качественный и количественный элементный анализ.
  • Картирование по составу, распределение элементов по площади/линии.
  • Кристаллографические исследования.

Выполненные проекты: