Перейти к основному содержанию

Услуги

Открытая площадка для проведения исследований, измерений и разработок на базе ИТМО.

Центр “Нанотехнологии” включает в себя более 30 высококвалифицированных специалистов в областях оптики, физики, химии и материаловедения, радиофизики. Парк оборудования содержит как типовое измерительное оборудование, так и уникальные научные установки.

Фильтры

Фото оборудования

Комплексная разработка волоконно-оптических электронных приборов различной сложности (волоконно-оптических гироскопов, волоконно-оптических датчиков температуры, рефлектометров)

Фото оборудования

Комплексное исследование волоконно-оптических электронных приборов (волоконно-оптических гироскопов, волоконно-оптических датчиков температуры, рефлектометров)

Комплексное исследование поверхности материалов

Пример результата

Комплексное исследование состава и свойств порошковых материалов (наноматериалов, микроматериалов)

Комплексные климатические испытания в камере тепла холода

Определение размеров микро- и нанообъектов методом электронной микроскопии

Рисунок 1. (a), (b) золь-гель диаграммы функциональных гелей на основе углеродных точек и нанокристаллической целлюлозы, (с) исследование динамической вязкости гелей разных рецептур с целью поиска наиболее вязкого состава, (d) исследование течения гелей оптимальных рецептур, (e), (f) анализ релаксации гелей после снятия нагрузок [данные взяты из научной публикации организации – исполнителя Egor Ryabсhenko, Arseniy Suslov, Chantal Tracey, Elena F. Krivoshapkina. Optically active carbon dot/cellulose nanocrys

Определение реологических свойств материалов

 a) Изотермы низкотемпературной сорбции-десорбции азота; b) распределение пор по размерам, расчитанные методом BJH [данные взяты из научной публикации организации – исполнителя Navrotskaya, A.G., Krivoshapkina, E.F., Perovskiy, I.A. et al. Synthesis and properties of carbon–metal oxide nanomaterials. J Sol-Gel Sci Technol 92, 449–457 (2019). https://doi.org/10.1007/s10971-019-04974-9].

Определение удельной площади поверхности и распределения пор по размерам материалов

Определение элементного состава методом EDX