Исследование структуры и морфологии поверхности методами атомно-силовой микроскопии
Описание
Атомно-силовой микроскоп позволяет оценить форму, структуру, морфологию и высоту изучаемых объектов. Можно получить как плоское, так и трехмерное изображение поверхности образцов.
Примеры:
- Оценка формы и качества полученных структур/кристаллов/нанообъектов
- Определение морфологии поверхности
- 2D и 3D визуализация поверхности образца
- Измерение высоты и линейных размеров объектов
Подразделение:
Оборудование:
Требования к образцам:
- Линейные размеры образца (вместе с подложкой) не должны превышать 30 мм в плоскости измерения и 10 мм в высоту.
- Исследуемая поверхность образца должна быть очищена от загрязнений (пыль, жир, масло) и защитных покрытий (лак, краска).
- Образец должен быть прочно закреплен на плоской подложке или иметь плоскую нижнюю границу.
- Перепад высот на исследуемой части объекта не должен превышать 15 мкм.
Стоимость:
3000.00 руб./образец*
*Стоимость рассчитана на 1 стандартный образец и может быть изменена в зависимости от сложности задачи.