Исследование шероховатости поверхности методами атомно-силовой микроскопии
Описание
Атомно-силовой микроскоп позволяет оценить с высокой точностью шероховатость поверхности исследуемых образцов, а также подложек для нанесения тонких пленок.
Примеры:
- Анализ шероховатости поверхности биополимерной пленки
- Измерение шероховатости поверхности стеклянных подложек
- Анализ шероховатости поверхности образца до и после нанесения тонкой пленки
Подразделение:
Оборудование:
Требования к образцам:
- Линейные размеры образца (вместе с подложкой) не должны превышать 30 мм в плоскости измерения и 10 мм в высоту.
- Исследуемая поверхность образца должна быть очищена от загрязнений (пыль, жир, масло) и защитных покрытий (лак, краска).
- Образец должен быть прочно закреплен на плоской подложке или иметь плоскую нижнюю границу.
- Перепад высот на исследуемой части объекта не должен превышать 15 мкм.
Стоимость:
3000.00 руб./образец*
*Стоимость рассчитана на 1 стандартный образец и может быть изменена в зависимости от сложности задачи.