Исследование структуры и морфологии поверхности методами электронной микроскопии
Описание
Электронный микроскоп позволяет оценить качество полученных образцов, форму структур, морфологию поверхности покрытий и пленок.
Примеры:
- Определение степени покрытия поверхности напыляемой пленкой
- Определение морфологии развитой поверхности
- Визуализация структуры биополимера
- Анализ формы биологических клеток
Подразделение:
Оборудование:
Требования к образцам:
- Линейные размеры образца (вместе с подложкой) не должны превышать 50 мм в каждом из направлений.
- Образцы в обязательном порядке должны быть сухими (предварительно высушенными).
- Исследуемая поверхность образца должна быть очищена от загрязнений (пыль, жир, масло) и защитных покрытий (лак, краска). В СЭМ исследуется только поверхность образца.
Порошкообразные объекты должны быть прочно закреплены на проводящей электрический ток (металлической) подложке.
Стоимость:
6900.00 руб./образец*
*Стоимость рассчитана на 1 стандартный образец и может быть изменена в зависимости от сложности задачи.