Сканирующий электронный микроскоп FEI Inspect S
Категория:
Микроскопия
Страна:
Чехия
Производитель:
FEI
Атомно-силовой микроскоп (АСМ) NT-MDT Ntegra
Категория:
Микроскопия
Страна:
Россия
Производитель:
NT-MDT
Атомно-силовой микроскоп (АСМ) AIST-NT SmartSPM 1000
Категория:
Микроскопия
Страна:
Россия
Производитель:
AIST-NT
Spectrometer Ocean Optics QEpro
Категория:
Оптические методы
Страна:
США
Производитель:
Ocean Optics
Микроволновой синтезатор Discover microwave synthesizer
Категория:
Синтез материалов
Страна:
США
Производитель:
CEM
Трубчатая печь Nabertherm
Категория:
Исследование состава
Страна:
Германия
Производитель:
Nabertherm GmbH
Микроскоп Carl Zeiss Axio Imager.A2
Категория:
Микроскопия
Страна:
Германия
Производитель:
Carl Zeiss
Измерительный комплекс для проведения испытаний антенной техники и измерений электрофизических характеристик материалов в диапазоне частот 1-18 ГГц.
Категория:
Электрофизические методы
Страна:
Россия
Производитель:
ТРИМ
Plasma Cleaner Diener Femto
Категория:
Микроскопия
Страна:
Германия
Производитель:
Diener